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XAD-200多功能全自动XRF

    XAD系列荧光光谱仪是一款全元素上照式光谱仪,可测量纳米级厚度、微小样品和凹槽异形件的膜厚,也可满足微区RoHS检测及多元素成分分析,先进的算法及解谱技术解决了诸多业界难题。    性能优势:    1. 微小样品检测:最小测量面积0.0085mm²    2. 变焦装置算法:可改变测量距离

  • 测量面积:最小0.008mm²
  • 镀层分析:23层镀层24种元素
  • 仪器特点:RoHS卤素有害元素检测
  • 仪器优势:全元素自动分析
  • 联系方式:400-850-1617
  • 服务宗旨:专注研发,专业生产,专精服务

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XAD-200是一款上照式全元素光谱分析仪,可测量纳米级厚度、微小样品和凹槽异形件的膜厚,也可满足微区RoHS检测及多元素成分分析,先进的算法及解谱技术解决了诸多业界难题。

被广泛用于各类产品的质量管控、来料检验和对生产工艺控制的测量使用。 

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  • 微小样品检测:最小测量面积0.008mm²

  • 变焦装置算法:可改变测量距离测量凹凸异形样品,变焦距离可达0-90mm

  • 自主研发的EFP算法:AI(3)-U(92)元素的成分分析,Li(3)-U(92)元素的涂镀层检测,多层多元素,甚至有同种元素在不同层也可精准测量

  • 先进的解谱技术:减少能量相近元素的干扰,降低检出限

  • 高性能探测器:SDD硅漂移窗口面积20/50mm²探测器

  • X射线装置:微焦加强型射线管搭配聚焦装置

  • 上照式设计:实现对超大样品或者密集点位进行快、准、稳高效率测量

  • 可编程自动位移:选配自动平台,X210*Y230*Z145mm行程内无人值守自动测量

  • 多准直器自动切换

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1. 成分分析范围:铝(Al)- 铀(U)

2. 成分最低检出限:1ppm

3. 涂镀层分析范围:锂(Li)- 铀(U)

4. 涂镀层最低检出限:0.005μm

5. 最小测量直径□0.1*0.3mm(最小测量面积0.03mm²)

    标配:最小测量直径0.3mm(最小测量面积0.07mm²)

6. 对焦距离:0-30mm

7. 样品腔尺寸:530mm*570mm*150mm

8. 仪器尺寸:550mm*760mm*635mm

9. 仪器重量:100KG

10. XY轴工作台移动范围:100mm*150mm

11. XY轴工作台最大承重:15KG

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广泛应用于电镀行业、通讯行业、汽车行业、五金建材、航空航天、环保检测、地质地矿、水暖卫浴、精密电子、珠宝首饰和古董、锂电行业等多种领域。



镀层测厚仪|光谱测厚仪|荧光光谱仪|测厚仪

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选择一六仪器的四大理由:

1.一机多用,无损检测(涂镀层检测-环保RoHS-成分分析)

2.最小测量面积0.002mm²

3.可检测凹槽0-90mm的异形件

4.轻元素,重复镀层,同种元素不同层亦可检测



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